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Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀

簡要描述:M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳(C)到镅(Am)全元素的微區(qū)XRF成像光譜儀。作為久經(jīng)驗(yàn)證M4 TORNADO微區(qū)XRF分析儀系列的成員,M4 TORNADO PLUS還具備多項(xiàng)創(chuàng)新功能,例如:創(chuàng)新的孔徑管理系統(tǒng)、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺(tái)。

  • 所在城市:上海市
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新日期:2025-06-06
  • 訪  問  量:120
詳細(xì)介紹
品牌Bruker/布魯克行業(yè)專用類型通用
價(jià)格區(qū)間50萬-100萬儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,能源,綜合
Bruker M4 TORNADO PLUS
用于超輕元素分析的微區(qū)XRF成像光譜儀
 
更多產(chǎn)品資料,聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司
 

Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀

 
M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳(C)到镅(Am)全元素的微區(qū)XRF成像光譜儀。作為久經(jīng)驗(yàn)證的M4 TORNADO微區(qū)XRF分析儀系列的新成員,M4 TORNADO PLUS還具備多項(xiàng)創(chuàng)新功能,例如:創(chuàng)新的孔徑管理系統(tǒng)、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺(tái)。
 

產(chǎn)品特點(diǎn)

 
·兩個(gè)大面積硅漂移探測器(SDD),配備超輕元素窗口
·高性能X射線管,增強(qiáng)低能量激發(fā)
·超高通量脈沖處理器
·孔徑管理系統(tǒng)(AMS)
·快速更換樣品臺(tái)(可選多種樣品支架)
·第二X射線管,配備自動(dòng)四位置準(zhǔn)直器切換裝置(選配)
·可編程氦氣吹掃系統(tǒng)(選配)

 

產(chǎn)品優(yōu)勢

·輕元素檢測下限至碳(C)
·提升輕元素檢測效率
·縮短采集時(shí)間,提升分析效率
·高景深設(shè)計(jì),確保表面形貌復(fù)雜樣品成像時(shí)更多特征與細(xì)節(jié)清晰聚焦
·縮短樣品更換與系統(tǒng)準(zhǔn)備時(shí)間
·高能譜線分析靈活性更高
·常壓環(huán)境下實(shí)現(xiàn)輕元素分析性能
 
 
產(chǎn)品規(guī)格
 
樣品類型 
固體、顆粒、液體
樣品室尺寸
W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm
樣品臺(tái)
W x D: 330 mm x 170 mm, 最大載重: 7 kg
測量氣體
空氣環(huán)境或可調(diào)真空(配備無油泵,約3分鐘可達(dá)2毫巴),可選氦氣吹掃系統(tǒng)
樣品行程
最大行程: W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm
掃描行程: W x D: 190 mm x 160 mm
移動(dòng)速度:采用TurboSpeed樣品臺(tái)時(shí)最高可達(dá)100 mm/s
樣品視圖
雙路實(shí)時(shí)俯視成像系統(tǒng)(不同放大倍率)實(shí)現(xiàn)樣品概覽與精確定位,側(cè)向魚眼鏡頭提供樣品室全景監(jiān)控
激發(fā)
第一X射線管:高亮度、輕元素微焦斑X射線管,配備多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng)和孔徑管理系統(tǒng)(AMS)
靶材:銠(Rh),可選銀(Ag)
管參數(shù):50 kV,30 W
光斑尺寸:使用多導(dǎo)毛細(xì)管透鏡時(shí),≤20μm (Mo Kα @17.5 keV)
濾光片:8種激發(fā)濾光片
可選第二X射線管:細(xì)聚焦X射線管,配備四位置準(zhǔn)直器切換裝置,準(zhǔn)直器尺寸從0.5 mm到4.5 mm
靶材:鎢(W),可選銠(Rh)、鉬(Mo)、銅(Cu)、鉻(Cr)
管參數(shù):50 kV,40 W
濾光片:8種激發(fā)濾光片
探測器
XFlash®超輕元素硅漂移探測器,可檢測從碳(C)到镅(Am)的元素,支持雙探測器 。
敏感區(qū)域面積:2 x 60 mm2;
能量分辨率:< 145 eV(在輸入計(jì)數(shù)率為 600,000 cps 時(shí));
吞吐量:最高可達(dá) 550,000 cps 輸出計(jì)數(shù)率
儀器控制
優(yōu)良的PC,Windows®操作系統(tǒng)
X射線管參數(shù)、濾光片、光學(xué)顯微鏡、樣品照明及樣品定位全面控制
光譜評(píng)估
峰識(shí)別、偽影與背景校正、峰面積計(jì)算、FP定量分析,使用 XMethod 進(jìn)行基于標(biāo)樣和無標(biāo)樣的校準(zhǔn)定量分析
分布分析
“On the fy" 測量,HyperMap功能
結(jié)果呈現(xiàn)
定量分析結(jié)果,統(tǒng)計(jì)評(píng)估,元素分布(線掃描,面掃描)
電源要求
100 - 240 V (1P), 50/60 Hz
尺寸和重量
W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*
質(zhì)量與安全
DIN EN ISO 9001:2015, CE 認(rèn)證,UKCA 認(rèn)證;全面輻射防護(hù)系統(tǒng);輻射量 < 1 μSv/h


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