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更新日期：2024-12-02訪問量：1722廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
SmartProber TTBruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber TT 具有平面內(nèi)磁鐵的低成本臺式 CIPT 系統(tǒng)，適用于研究和開發(fā) 這種低成本的臺式設(shè)備配有手動 xy 定位、全自動探頭著陸、平面內(nèi)磁鐵和抗震臺。

更新日期：2024-12-02訪問量：2891廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
SmartProber-P1Bruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber-P1 ——用于企業(yè)研發(fā)和故障分析中 300mm 晶圓應(yīng)用的電動系統(tǒng)

更新日期：2024-12-02訪問量：2530廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE

Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE ——用于幾乎所有先進(jìn)薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進(jìn)多模計(jì)量 FilmTek™ 2000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統(tǒng)結(jié)合了FilmTek技術(shù)，為從研發(fā)到生產(chǎn)的幾乎所有先進(jìn)薄膜測量應(yīng)用提供了業(yè)界的精度、精度和多功能性。其標(biāo)準(zhǔn)的小點(diǎn)測量尺寸和模式識別能力使該系統(tǒng)成為表征圖案化薄膜和產(chǎn)品晶片的理想選擇。

更新日期：2024-12-02訪問量：3173廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系
Bruker FilmTek CD橢偏儀

Bruker FilmTek CD橢偏儀 ——多模態(tài)臨界尺寸測量和先進(jìn)薄膜計(jì)量學(xué) FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時提供已知和*未知結(jié)構(gòu)的實(shí)時多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術(shù)來滿足與開發(fā)和生產(chǎn)中最復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。

更新日期：2024-12-02訪問量：3051廠商性質(zhì)：代理商
現(xiàn)在聯(lián)系

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